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BiasHAST高加速壓力測(cè)試系統(tǒng)，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...
半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...
PCB老化試驗(yàn)箱半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...
HAST工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...
BiasHAST高加速壓力立式偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...
HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力...
工業(yè)用高加速壽命老化試驗(yàn)箱HAST，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...
BiasHAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試，B-HAST高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、...
BiasHAST偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品...
半導(dǎo)體芯片BiasHAST測(cè)試PCB老化試驗(yàn)箱，HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...
芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
芯片 老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶...
Small Burn-in Tester芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用...
電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣...
器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測(cè)量系統(tǒng)是依據(jù)測(cè)試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗(yàn)參數(shù)控制、電阻性能測(cè)試、保護(hù)評(píng)估控制于一體，可按照國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件下對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行...
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